USITC · 2026-21
HTS 9031
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品
Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:
日本語は案内用の参考訳・要約です。公式英語原文をもとにした分類の候補です。追加関税などを含む実効税率や、商品の分類の確定結果ではありません。
下位の分類 6件
- 903110釣合試験機Machines for balancing mechanical parts
分類の条件・出典
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 釣合試験機
この分類には独立した説明がないため、9031100000の説明を参考として表示しています。この分類全体の公式説明ではありません。
- 903120テストベンチTest benches
分類の条件・出典
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ テストベンチ
この分類には独立した説明がないため、9031200000の説明を参考として表示しています。この分類全体の公式説明ではありません。
- 903141半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)
分類の条件・出典
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ 半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器
この分類には独立した説明がないため、90314100の説明を参考として表示しています。この分類全体の公式説明ではありません。
- 903149その他Other:
分類の条件・出典
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他
- 903180その他の機器Other instruments, appliances and machines:
分類の条件・出典
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器
- 903190部分品及び附属品Parts and accessories:
分類の条件・出典
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品