HTS 903141

日本語は案内用の参考訳・要約です。公式英語原文をもとにした分類の候補です。追加関税などを含む実効税率や、商品の分類の確定結果ではありません。

このページは収録済みコードの接頭辞によるグループです。独立した公式説明・税率を推定していません。

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• 90314100半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)→
  分類の条件・出典

  測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ 半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

使用データ：2026-21