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2026-132026-12と比較公開日 このページ 30件
  1. 9029.90.40.00変更注記・その他属性の記載変更自転車用の速度計のもの
    9029.90.40.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    自転車用の速度計のもの

    分類の条件を見る

    回転計、生産量計、タクシーメーター、走行距離計、歩数計その他これらに類する計器、速度計及びタコメーター（第9014項又は第9015項のものを除く。）、ストロボスコープ並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ 自転車用の速度計のもの

    Of bicycle speedometers

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.03. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  2. 9029.90.60.00変更注記・その他属性の記載変更ストロボスコープのもの
    9029.90.60.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    ストロボスコープのもの

    分類の条件を見る

    回転計、生産量計、タクシーメーター、走行距離計、歩数計その他これらに類する計器、速度計及びタコメーター（第9014項又は第9015項のものを除く。）、ストロボスコープ並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ ストロボスコープのもの

    Of stroboscopes

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.15. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  3. 9029.90.80変更注記・その他属性の記載変更その他
    9029.90.80変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    回転計、生産量計、タクシーメーター、走行距離計、歩数計その他これらに類する計器、速度計及びタコメーター（第9014項又は第9015項のものを除く。）、ストロボスコープ並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.02.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  4. 9030.10.00.00変更注記・その他属性の記載変更電離放射線の測定用又は検出用の機器
    9030.10.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    電離放射線の測定用又は検出用の機器

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 電離放射線の測定用又は検出用の機器

    Instruments and apparatus for measuring or detecting ionizing radiations

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  5. 9030.20.05.00変更注記・その他属性の記載変更電気通信用に特に設計したもの
    9030.20.05.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    電気通信用に特に設計したもの

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ オシロスコープ及びオシログラフ ＞ 電気通信用に特に設計したもの

    Specially designed for telecommunications

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  6. 9030.20.10.00変更注記・その他属性の記載変更その他のオシロスコープ及びオシログラフ
    9030.20.10.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他のオシロスコープ及びオシログラフ

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ オシロスコープ及びオシログラフ ＞ その他のオシロスコープ及びオシログラフ

    Other oscilloscopes and oscillographs

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.03. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  7. 9030.31.00.00変更注記・その他属性の記載変更記録装置を備えていないマルチメーター
    9030.31.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    記録装置を備えていないマルチメーター

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の電圧、電流、抵抗又は電力の測定用又は検査用の機器（半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用のものを除く。） ＞ 記録装置を備えていないマルチメーター

    Multimeters, without a recording device

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.02. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  8. 9030.32.00.00変更注記・その他属性の記載変更記録装置を備えたマルチメーター
    9030.32.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    記録装置を備えたマルチメーター

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の電圧、電流、抵抗又は電力の測定用又は検査用の機器（半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用のものを除く。） ＞ 記録装置を備えたマルチメーター

    Multimeters, with a recording device

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.02. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  9. 9030.33.34.00変更注記・その他属性の記載変更抵抗測定器
    9030.33.34.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    抵抗測定器

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の電圧、電流、抵抗又は電力の測定用又は検査用の機器（半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用のものを除く。） ＞ その他のもの（記録装置を有しないもの） ＞ 抵抗測定器

    Resistance measuring instruments

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  10. 9030.33.38.00変更注記・その他属性の記載変更その他
    9030.33.38.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の電圧、電流、抵抗又は電力の測定用又は検査用の機器（半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用のものを除く。） ＞ その他のもの（記録装置を有しないもの） ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  11. 9030.39.01.00変更注記・その他属性の記載変更その他のもの（記録装置を備えたもの）
    9030.39.01.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他のもの（記録装置を備えたもの）

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の電圧、電流、抵抗又は電力の測定用又は検査用の機器（半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用のものを除く。） ＞ その他のもの（記録装置を備えたもの）

    Other, with a recording device

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  12. 9030.40.00.00変更注記・その他属性の記載変更遠隔通信用に特に設計したその他の機器
    9030.40.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    遠隔通信用に特に設計したその他の機器

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 遠隔通信用に特に設計したその他の機器（例えば、漏話計、利得測定装置、ひずみ率計及び雑音計）

    Other instruments and apparatus, specially designed for telecommunications (for example, cross-talk meters, gain measuring instruments, distortion factor meters, psophometers)

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  13. 9030.82.00.00変更注記・その他属性の記載変更半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用の機器（集積回路を含む。）
    9030.82.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用の機器（集積回路を含む。）

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器 ＞ 半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用の機器（集積回路を含む。）

    For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  14. 9030.84.00.00変更注記・その他属性の記載変更その他のもの（記録装置を備えたもの）
    9030.84.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他のもの（記録装置を備えたもの）

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器 ＞ その他のもの（記録装置を備えたもの）

    Other, with a recording device

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.02. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  15. 9030.89.01.00変更注記・その他属性の記載変更その他
    9030.89.01.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器 ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.02. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  16. 9030.90.25.00変更注記・その他属性の記載変更プリント回路アセンブリ
    9030.90.25.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    プリント回路アセンブリ

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ 第9030.10号の物品用のもの ＞ プリント回路アセンブリ

    Printed circuit assemblies

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  17. 9030.90.46.00変更注記・その他属性の記載変更その他
    9030.90.46.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ 第9030.10号の物品用のもの ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    },
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.69. ",
      "columns": [
        "desc"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  18. 9030.90.66.00変更注記・その他属性の記載変更第9030.40号又は第9030.82号の機器のもの
    9030.90.66.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    第9030.40号又は第9030.82号の機器のもの

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他 ＞ プリント回路アセンブリ ＞ 第9030.40号又は第9030.82号の機器のもの

    Of instruments and apparatus of subheading 9030.40 or 9030.82

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  19. 9030.90.68.00変更注記・その他属性の記載変更その他
    9030.90.68.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他 ＞ プリント回路アセンブリ ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  20. 9030.90.84.00変更注記・その他属性の記載変更第9030.82号の機器のもの
    9030.90.84.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    第9030.82号の機器のもの

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他 ＞ その他 ＞ 第9030.82号の機器のもの

    Of instruments and apparatus of subheading 9030.82

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  21. 9030.90.89変更注記・その他属性の記載変更その他
    9030.90.89変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他 ＞ その他 ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  22. 9031.10.00.00変更注記・その他属性の記載変更釣合試験機
    9031.10.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    釣合試験機

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 釣合試験機

    Machines for balancing mechanical parts

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  23. 9031.20.00.00変更注記・その他属性の記載変更テストベンチ
    9031.20.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    テストベンチ

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ テストベンチ

    Test benches

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  24. 9031.41.00変更注記・その他属性の記載変更半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器
    9031.41.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ 半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

    For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  25. 9031.49.10.00変更注記・その他属性の記載変更投影検査機
    9031.49.10.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    投影検査機

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ 投影検査機

    Profile projectors

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  26. 9031.49.40.00変更注記・その他属性の記載変更座標測定機
    9031.49.40.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    座標測定機

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ 座標測定機

    Coordinate-measuring machines

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  27. 9031.49.70.00変更注記・その他属性の記載変更半導体デバイスの製造に使用するマスク（フォトマスクを除く。）の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの
    9031.49.70.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    半導体デバイスの製造に使用するマスク（フォトマスクを除く。）の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ 半導体デバイスの製造に使用するマスク（フォトマスクを除く。）の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの

    For inspecting masks (other than photomasks) used in manufacturing semiconductor devices; for measuring surface particulate contamination on semiconductor devices

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  28. 9031.49.90.00変更注記・その他属性の記載変更その他
    9031.49.90.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  29. 9031.80.40.00変更注記・その他属性の記載変更半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡
    9031.80.40.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器 ＞ 半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡

    Electron beam microscopes fitted with equipment specifically designed for the handling and transport of semiconductor wafers or reticles

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  30. 9031.80.80変更注記・その他属性の記載変更その他
    9031.80.80変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器 ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9817.84.01 and 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9817.84.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

公式原文の比較です。税率や適用対象の判断は公式資料をご確認ください。

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データ出典：U.S. International Trade Commission（新しいタブ）