9031.49.70.00

For inspecting masks (other than photomasks) used in manufacturing semiconductor devices; for measuring surface particulate contamination on semiconductor devices

商品説明は公式データの英語原文です。日本語の参考キーワードは公式訳・分類の確定結果ではありません。

第90章：Optical, photographic, cinematographic, measuring, checking, precision, medical or surgical instruments and apparatus; parts and accessories thereof

空欄は0%や免税を意味しません。上位のコードに税率が記載されている場合があります。追加関税や原産国別措置を含む実効税率は表示していません。

1. 9031.49.70.00変更

   2026-122026-13公開日 2026-07-29

   For inspecting masks (other than photomasks) used in manufacturing semiconductor devices; for measuring surface particulate contamination on semiconductor devices

   注記・その他属性の記載変更

   変更前 (2026-12)

   公式属性の値を表示

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         "type": "endnote",
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     ],
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   変更後 (2026-13)

   公式属性の値を表示

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