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2026-132026-12と比較公開日 このページ 30件
  1. 9030.39.01.00変更注記・その他属性の記載変更その他のもの（記録装置を備えたもの）
    9030.39.01.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他のもの（記録装置を備えたもの）

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の電圧、電流、抵抗又は電力の測定用又は検査用の機器（半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用のものを除く。） ＞ その他のもの（記録装置を備えたもの）

    Other, with a recording device

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  2. 9030.40.00.00変更注記・その他属性の記載変更遠隔通信用に特に設計したその他の機器
    9030.40.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    遠隔通信用に特に設計したその他の機器

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 遠隔通信用に特に設計したその他の機器（例えば、漏話計、利得測定装置、ひずみ率計及び雑音計）

    Other instruments and apparatus, specially designed for telecommunications (for example, cross-talk meters, gain measuring instruments, distortion factor meters, psophometers)

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  3. 9030.82.00.00変更注記・その他属性の記載変更半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用の機器（集積回路を含む。）
    9030.82.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用の機器（集積回路を含む。）

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器 ＞ 半導体ウエハー又は半導体デバイスの測定用又は検査用の機器（集積回路を含む。）

    For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  4. 9030.84.00.00変更注記・その他属性の記載変更その他のもの（記録装置を備えたもの）
    9030.84.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他のもの（記録装置を備えたもの）

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器 ＞ その他のもの（記録装置を備えたもの）

    Other, with a recording device

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.02. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  5. 9030.89.01.00変更注記・その他属性の記載変更その他
    9030.89.01.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器 ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.02. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  6. 9030.90.25.00変更注記・その他属性の記載変更プリント回路アセンブリ
    9030.90.25.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    プリント回路アセンブリ

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ 第9030.10号の物品用のもの ＞ プリント回路アセンブリ

    Printed circuit assemblies

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  7. 9030.90.46.00変更注記・その他属性の記載変更その他
    9030.90.46.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ 第9030.10号の物品用のもの ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    },
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.69. ",
      "columns": [
        "desc"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  8. 9030.90.66.00変更注記・その他属性の記載変更第9030.40号又は第9030.82号の機器のもの
    9030.90.66.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    第9030.40号又は第9030.82号の機器のもの

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他 ＞ プリント回路アセンブリ ＞ 第9030.40号又は第9030.82号の機器のもの

    Of instruments and apparatus of subheading 9030.40 or 9030.82

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  9. 9030.90.68.00変更注記・その他属性の記載変更その他
    9030.90.68.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他 ＞ プリント回路アセンブリ ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  10. 9030.90.84.00変更注記・その他属性の記載変更第9030.82号の機器のもの
    9030.90.84.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    第9030.82号の機器のもの

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他 ＞ その他 ＞ 第9030.82号の機器のもの

    Of instruments and apparatus of subheading 9030.82

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  11. 9030.90.89変更注記・その他属性の記載変更その他
    9030.90.89変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器（第9028項の計器を除く。）、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他 ＞ その他 ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  12. 9031.10.00.00変更注記・その他属性の記載変更釣合試験機
    9031.10.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    釣合試験機

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 釣合試験機

    Machines for balancing mechanical parts

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  13. 9031.20.00.00変更注記・その他属性の記載変更テストベンチ
    9031.20.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    テストベンチ

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ テストベンチ

    Test benches

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  14. 9031.41.00変更注記・その他属性の記載変更半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器
    9031.41.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ 半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

    For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  15. 9031.49.10.00変更注記・その他属性の記載変更投影検査機
    9031.49.10.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    投影検査機

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ 投影検査機

    Profile projectors

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  16. 9031.49.40.00変更注記・その他属性の記載変更座標測定機
    9031.49.40.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    座標測定機

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ 座標測定機

    Coordinate-measuring machines

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  17. 9031.49.70.00変更注記・その他属性の記載変更半導体デバイスの製造に使用するマスク（フォトマスクを除く。）の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの
    9031.49.70.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    半導体デバイスの製造に使用するマスク（フォトマスクを除く。）の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ 半導体デバイスの製造に使用するマスク（フォトマスクを除く。）の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの

    For inspecting masks (other than photomasks) used in manufacturing semiconductor devices; for measuring surface particulate contamination on semiconductor devices

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  18. 9031.49.90.00変更注記・その他属性の記載変更その他
    9031.49.90.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  19. 9031.80.40.00変更注記・その他属性の記載変更半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡
    9031.80.40.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器 ＞ 半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡

    Electron beam microscopes fitted with equipment specifically designed for the handling and transport of semiconductor wafers or reticles

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  20. 9031.80.80変更注記・その他属性の記載変更その他
    9031.80.80変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器 ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9817.84.01 and 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9817.84.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  21. 9031.90.21.00変更注記・その他属性の記載変更投影検査機のもの
    9031.90.21.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    投影検査機のもの

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ 投影検査機のもの

    Of profile projectors

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  22. 9031.90.45.00変更注記・その他属性の記載変更第9031.49.40号の座標測定機用の台及びフレーム
    9031.90.45.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    第9031.49.40号の座標測定機用の台及びフレーム

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器のもの（試験台用のものを除く。） ＞ 第9031.49.40号の座標測定機用の台及びフレーム

    Bases and frames for the coordinate-measuring machines of subheading 9031.49.40

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.03. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  23. 9031.90.54.00変更注記・その他属性の記載変更第9031.41号又は第9031.49.70号の光学機器のもの
    9031.90.54.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    第9031.41号又は第9031.49.70号の光学機器のもの

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器のもの（試験台用のものを除く。） ＞ 第9031.41号又は第9031.49.70号の光学機器のもの

    Of optical instruments and appliances of subheading 9031.41 or 9031.49.70

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  24. 9031.90.59.00変更注記・その他属性の記載変更その他
    9031.90.59.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器のもの（試験台用のものを除く。） ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  25. 9031.90.70.00変更注記・その他属性の記載変更第9031.80.40号の物品のもの
    9031.90.70.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    第9031.80.40号の物品のもの

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他 ＞ 第9031.80.40号の物品のもの

    Of articles of subheading 9031.80.40

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  26. 9031.90.91変更注記・その他属性の記載変更その他
    9031.90.91変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ 部分品及び附属品 ＞ その他 ＞ その他

    Other

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01 and U.S. note 19 to subchapter III, chapter 99. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See U.S. note 19 to subchapter III, chapter 99. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  27. 9032.10.00変更注記・その他属性の記載変更サーモスタット
    9032.10.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    サーモスタット

    分類の条件を見る

    自動調整機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ サーモスタット

    Thermostats

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01. ",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  28. 9032.10.00.30変更注記・その他属性の記載変更壁取付用に設計したもの
    9032.10.00.30変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    壁取付用に設計したもの

    分類の条件を見る

    自動調整機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ サーモスタット ＞ 空調装置、冷凍装置又は暖房装置用のもの ＞ 壁取付用に設計したもの

    Designed for wall mounting

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.69. ",
      "columns": [
        "desc"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  29. 9032.20.00.00変更注記・その他属性の記載変更マノスタット
    9032.20.00.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    マノスタット

    分類の条件を見る

    自動調整機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ マノスタット

    Manostats

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}
  30. 9032.81.00変更注記・その他属性の記載変更液圧式及び空気圧式のもの
    9032.81.00変更
    2026-122026-13公開日 2026-07-29
    参考日本語訳

    液圧式及び空気圧式のもの

    分類の条件を見る

    自動調整機器並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の機器 ＞ 液圧式及び空気圧式のもの

    Hydraulic and pneumatic

    注記・その他属性の記載変更

    変更前 (2026-12)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [
    {
      "type": "endnote",
      "value": "See 9903.88.01.",
      "columns": [
        "general"
      ]
    }
  ],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

    変更後 (2026-13)

    公式属性の値を表示
    {
  "superior": null,
  "footnotes": [],
  "quotaQuantity": null,
  "additionalDuties": null,
  "addiitionalDuties": null
}

公式原文の比較です。税率や適用対象の判断は公式資料をご確認ください。

取得済みの改訂版を順に比較した変更点を表示しています。間の改訂版を取得していない場合は、複数の改訂にまたがる変更をまとめて表示します。各行の「変更前 → 変更後」の版を確認してください。

データ出典：U.S. International Trade Commission（新しいタブ）