HTS CODE · 10桁
9031.41.00.20
For inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices
参考日本語訳（AI生成）
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ 半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器 ＞ 半導体デバイスの製造に使用するフォトマスク又はレチクルの検査用のもの
「＞」は広い分類から品目への階層を示します。公式訳ではありません。分類・条件は英語原文と公式資料をご確認ください。
商品説明・参考キーワードについて
商品説明は公式データの英語原文です。日本語の参考キーワードは公式訳・分類の確定結果ではありません。
関税率表の記載
- 一般税率（General）
- 記載なし（空欄）
- 特別税率（Special）
- 記載なし（空欄）
- 第2欄税率（Column 2）
- 記載なし（空欄）
空欄は0%や免税を意味しません。上位のコードに税率が記載されている場合があります。追加関税や原産国別措置を含む実効税率は表示していません。
階層と商品説明
- 9031Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:
- Other optical instruments and appliances:
- 9031.41.00For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)
- 9031.41.00.20For inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices
上位コードの税率記載
| 上位コード | 一般税率（General） | 特別税率（Special） | 第2欄税率（Column 2） |
|---|---|---|---|
| 9031.41.00 | Free | 空欄 | 50% |
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- 9031.10.00.00Machines for balancing mechanical parts
- 9031.20.00.00Test benches
- 9031.41.00.40For wafers
- 9031.41.00.60Other
- 9031.49.10.00Profile projectors
- 9031.49.40.00Coordinate-measuring machines
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