9031.41.00.40

関税率表の記載

一般税率（General）

記載なし（空欄）0%や免税を意味しません

特別税率（Special）

記載なし（空欄）0%や免税を意味しません

第2欄税率（Column 2）

記載なし（空欄）0%や免税を意味しません

空欄は0%や免税を意味しません。上位のコードに税率が記載されている場合があります。追加関税や原産国別措置を含む実効税率は表示していません。

階層と商品説明

1. 項（4桁）9031
   参考日本語訳

   測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

   Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

2. 上位の商品説明
   参考日本語訳

   その他の光学機器

   Other optical instruments and appliances:

3. 8桁の分類9031.41.00
   参考日本語訳

   半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

   分類の条件を見る

   測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ 半導体ウエハー又は半導体デバイス（集積回路を含む。）の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル（半導体デバイス（集積回路を含む。）の製造に使用するものに限る。）の検査用の機器

   For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

4. 上位の商品説明
   参考日本語訳

   半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用のもの

   For inspecting semiconductor wafers or devices:

5. このコード9031.41.00.40
   参考日本語訳

   ウエハー用のもの

   For wafers

同じ4桁見出しに属するコードです。商品の互換性や分類の一致を示すものではありません。