9031.80
その他の機器
Other instruments, appliances and machines:
商品説明・参考キーワードについて
日本語は参考訳です。公式訳・分類の確定結果ではありません。分類・条件は併記した英語原文と公式資料をご確認ください。
分類の条件:測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器
こんな機能がほしい
関税率表の記載
- 一般税率(General)
- 記載なし(空欄)0%や免税を意味しません
- 特別税率(Special)
- 記載なし(空欄)0%や免税を意味しません
- 第2欄税率(Column 2)
- 記載なし(空欄)0%や免税を意味しません
空欄は0%や免税を意味しません。上位のコードに税率が記載されている場合があります。追加関税や原産国別措置を含む実効税率は表示していません。
階層と商品説明
- 項(4桁)9031参考日本語訳
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品
Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:
- このコード9031.80参考日本語訳
その他の機器
Other instruments, appliances and machines:
下位コード(最大100件)
- 9031.80.40.00参考日本語訳
半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡
分類の条件を見る
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > 半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡
Electron beam microscopes fitted with equipment specifically designed for the handling and transport of semiconductor wafers or reticles
- 9031.80.80参考日本語訳
その他
分類の条件を見る
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他
Other
このコードの変更履歴
0 件 · 公式データの記載変更