9031.80.80.60
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 > 内燃機関の特性の試験用の機器 > 電気的特性の試験用のもの
For testing electrical characteristics
商品説明・参考キーワードについて
日本語は参考訳(AI生成)です。公式訳・分類の確定結果ではありません。分類・条件は併記した英語原文と公式資料をご確認ください。
第90章:光学・写真・映画・測定・検査・精密・医療機器とその部分品・附属品
関税率表の記載
- 一般税率(General)
- 記載なし(空欄)
- 特別税率(Special)
- 記載なし(空欄)
- 第2欄税率(Column 2)
- 記載なし(空欄)
空欄は0%や免税を意味しません。上位のコードに税率が記載されている場合があります。追加関税や原産国別措置を含む実効税率は表示していません。
階層と商品説明
- 9031参考日本語訳(AI生成)
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品
Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:
- 9031.80参考日本語訳(AI生成)
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器
Other instruments, appliances and machines:
- 9031.80.80参考日本語訳(AI生成)
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他
Other
- 参考日本語訳(AI生成)
内燃機関の特性の試験用の機器
Equipment for testing the characteristics of internal combustion engines:
- 9031.80.80.60参考日本語訳(AI生成)
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 > 内燃機関の特性の試験用の機器 > 電気的特性の試験用のもの
For testing electrical characteristics
上位コードの税率記載
| 上位コード | 一般税率(General) | 特別税率(Special) | 第2欄税率(Column 2) |
|---|---|---|---|
| 9031.80.80 | 無税Free | 空欄 | 40% |
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Machines for balancing mechanical parts
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測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > テストベンチ
Test benches
- 9031.41.00.20参考日本語訳(AI生成)
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 > 半導体デバイスの製造に使用するフォトマスク又はレチクルの検査用のもの
For inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices
- 9031.41.00.40参考日本語訳(AI生成)
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用のもの > ウエハー用のもの
For wafers
- 9031.41.00.60参考日本語訳(AI生成)
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用のもの > その他
Other
- 9031.49.10.00参考日本語訳(AI生成)
測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 > 投影検査機
Profile projectors
同じ4桁見出しに属するコードです。商品の互換性や分類の一致を示すものではありません。