9031.49
その他
Other:
商品説明・参考キーワードについて
日本語は参考訳です。公式訳・分類の確定結果ではありません。分類・条件は併記した英語原文と公式資料をご確認ください。
分類の条件：測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他
こんな機能がほしい
関税率表の記載
- 一般税率（General）
- 記載なし（空欄）0%や免税を意味しません
- 特別税率（Special）
- 記載なし（空欄）0%や免税を意味しません
- 第2欄税率（Column 2）
- 記載なし（空欄）0%や免税を意味しません
空欄は0%や免税を意味しません。上位のコードに税率が記載されている場合があります。追加関税や原産国別措置を含む実効税率は表示していません。
階層と商品説明
- 項（4桁）9031参考日本語訳
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品
Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:
- 上位の商品説明参考日本語訳
その他の光学機器
Other optical instruments and appliances:
- このコード9031.49参考日本語訳
その他
Other:
下位コード（最大100件）
- 9031.49.10.00参考日本語訳
投影検査機
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測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ 投影検査機
Profile projectors
- 9031.49.40.00参考日本語訳
座標測定機
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測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ 座標測定機
Coordinate-measuring machines
- 9031.49.70.00参考日本語訳
半導体デバイスの製造に使用するマスク（フォトマスクを除く。）の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの
分類の条件を見る
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ 半導体デバイスの製造に使用するマスク（フォトマスクを除く。）の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの
For inspecting masks (other than photomasks) used in manufacturing semiconductor devices; for measuring surface particulate contamination on semiconductor devices
- 9031.49.90.00参考日本語訳
その他
分類の条件を見る
測定用又は検査用の機器（この類の他の項に該当するものを除く。）及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 ＞ その他の光学機器 ＞ その他 ＞ その他
Other
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