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すべてのHTSコード 29,861件

2026年 第21次改訂

コード順 · 24,991–25,020件を表示

HTSコード検索結果
HTSコード商品説明一般税率(General)特別税率(Special)第2欄税率(Column 2)
9030.90.89.56
参考日本語訳

第9030.84号の物品のもの

Of articles of subheading 9030.84

分類の条件を見る

オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > その他 > 第9030.84号の物品のもの

  1. 参考日本語訳

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品

    Oscilloscopes, spectrum analyzers and other instruments and apparatus for measuring or checking electrical quantities, excluding meters of heading 9028; instruments and apparatus for measuring or detecting alpha, beta, gamma, X-ray, cosmic or other ionizing radiations; parts and accessories thereof:​

  2. 参考日本語訳

    部分品及び附属品

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

    Parts and accessories:

  3. 参考日本語訳

    その他

    Other:

  4. 参考日本語訳

    その他

    Other:

  5. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > その他

    Other

空欄空欄空欄
9030.90.89.61
参考日本語訳

その他

Other

分類の条件を見る

オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > その他 > その他

  1. 参考日本語訳

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品

    Oscilloscopes, spectrum analyzers and other instruments and apparatus for measuring or checking electrical quantities, excluding meters of heading 9028; instruments and apparatus for measuring or detecting alpha, beta, gamma, X-ray, cosmic or other ionizing radiations; parts and accessories thereof:​

  2. 参考日本語訳

    部分品及び附属品

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

    Parts and accessories:

  3. 参考日本語訳

    その他

    Other:

  4. 参考日本語訳

    その他

    Other:

  5. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > その他

    Other

空欄空欄空欄
9031
参考日本語訳

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

空欄空欄空欄
9031.10.00.00
参考日本語訳

釣合試験機

Machines for balancing mechanical parts

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 釣合試験機

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

無税Free空欄40%
9031.20.00.00
参考日本語訳

テストベンチ

Test benches

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > テストベンチ

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

1.7%無税 (A*,AU,BH,CL,CO,D,E,IL,JO,KR,MA,OM,P,PA,PE,S,SG)Free (A*,AU,BH,CL,CO,D,E,IL,JO,KR,MA,OM,P,PA,PE,S,SG)45%
9031.41.00
参考日本語訳

半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器

For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の光学機器

    Other optical instruments and appliances:

無税Free空欄50%
9031.41.00.20
参考日本語訳

半導体デバイスの製造に使用するフォトマスク又はレチクルの検査用のもの

For inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 > 半導体デバイスの製造に使用するフォトマスク又はレチクルの検査用のもの

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の光学機器

    Other optical instruments and appliances:

  3. 参考日本語訳

    半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器

    For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

空欄空欄空欄
9031.41.00.40
参考日本語訳

ウエハー用のもの

For wafers

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用のもの > ウエハー用のもの

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の光学機器

    Other optical instruments and appliances:

  3. 参考日本語訳

    半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器

    For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

  4. 参考日本語訳

    半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用のもの

    For inspecting semiconductor wafers or devices:

空欄空欄空欄
9031.41.00.60
参考日本語訳

その他

Other

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用のもの > その他

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の光学機器

    Other optical instruments and appliances:

  3. 参考日本語訳

    半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器

    For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)

  4. 参考日本語訳

    半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用のもの

    For inspecting semiconductor wafers or devices:

空欄空欄空欄
9031.49
参考日本語訳

その他

Other:

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の光学機器

    Other optical instruments and appliances:

空欄空欄空欄
9031.49.10.00
参考日本語訳

投影検査機

Profile projectors

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 > 投影検査機

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の光学機器

    Other optical instruments and appliances:

  3. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他

    Other:

無税Free空欄45%
9031.49.40.00
参考日本語訳

座標測定機

Coordinate-measuring machines

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 > 座標測定機

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の光学機器

    Other optical instruments and appliances:

  3. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他

    Other:

無税Free空欄50%
9031.49.70.00
参考日本語訳

半導体デバイスの製造に使用するマスク(フォトマスクを除く。)の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの

For inspecting masks (other than photomasks) used in manufacturing semiconductor devices; for measuring surface particulate contamination on semiconductor devices

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 > 半導体デバイスの製造に使用するマスク(フォトマスクを除く。)の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の光学機器

    Other optical instruments and appliances:

  3. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他

    Other:

無税Free空欄50%
9031.49.90.00
参考日本語訳

その他

Other

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 > その他

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の光学機器

    Other optical instruments and appliances:

  3. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他

    Other:

無税Free空欄50%
9031.80
参考日本語訳

その他の機器

Other instruments, appliances and machines:

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

空欄空欄空欄
9031.80.40.00
参考日本語訳

半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡

Electron beam microscopes fitted with equipment specifically designed for the handling and transport of semiconductor wafers or reticles

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > 半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の機器

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器

    Other instruments, appliances and machines:

無税Free空欄40%
9031.80.80
参考日本語訳

その他

Other

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の機器

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器

    Other instruments, appliances and machines:

無税Free空欄40%
9031.80.80.60
参考日本語訳

電気的特性の試験用のもの

For testing electrical characteristics

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 > 内燃機関の特性の試験用の機器 > 電気的特性の試験用のもの

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の機器

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器

    Other instruments, appliances and machines:

  3. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他

    Other

  4. 参考日本語訳

    内燃機関の特性の試験用の機器

    Equipment for testing the characteristics of internal combustion engines:

空欄空欄空欄
9031.80.80.70
参考日本語訳

その他

Other

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 > 内燃機関の特性の試験用の機器 > その他

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の機器

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器

    Other instruments, appliances and machines:

  3. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他

    Other

  4. 参考日本語訳

    内燃機関の特性の試験用の機器

    Equipment for testing the characteristics of internal combustion engines:

空欄空欄空欄
9031.80.80.85
参考日本語訳

その他

Other

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 > その他

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    その他の機器

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器

    Other instruments, appliances and machines:

  3. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他

    Other

空欄空欄空欄
9031.90
参考日本語訳

部分品及び附属品

Parts and accessories:

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

空欄空欄空欄
9031.90.21.00
参考日本語訳

投影検査機のもの

Of profile projectors

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > 投影検査機のもの

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    部分品及び附属品

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

    Parts and accessories:

無税Free空欄45%
9031.90.45.00
参考日本語訳

第9031.49.40号の座標測定機用の台及びフレーム

Bases and frames for the coordinate-measuring machines of subheading 9031.49.40

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。) > 第9031.49.40号の座標測定機用の台及びフレーム

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    部分品及び附属品

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

    Parts and accessories:

  3. 参考日本語訳

    その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。)

    Of other optical instruments and appliances, other than test benches:

無税Free空欄50%
9031.90.54.00
参考日本語訳

第9031.41号又は第9031.49.70号の光学機器のもの

Of optical instruments and appliances of subheading 9031.41 or 9031.49.70

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。) > 第9031.41号又は第9031.49.70号の光学機器のもの

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    部分品及び附属品

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

    Parts and accessories:

  3. 参考日本語訳

    その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。)

    Of other optical instruments and appliances, other than test benches:

無税Free空欄50%
9031.90.59.00
参考日本語訳

その他

Other

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。) > その他

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    部分品及び附属品

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

    Parts and accessories:

  3. 参考日本語訳

    その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。)

    Of other optical instruments and appliances, other than test benches:

無税Free空欄50%
9031.90.70.00
参考日本語訳

第9031.80.40号の物品のもの

Of articles of subheading 9031.80.40

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > 第9031.80.40号の物品のもの

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    部分品及び附属品

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

    Parts and accessories:

  3. 参考日本語訳

    その他

    Other:

無税Free空欄40%
9031.90.91
参考日本語訳

その他

Other

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    部分品及び附属品

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

    Parts and accessories:

  3. 参考日本語訳

    その他

    Other:

無税Free空欄40%
9031.90.91.30
参考日本語訳

釣合試験機のもの

Of machines for balancing mechanical parts

分類の条件を見る

測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > 釣合試験機のもの

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    部分品及び附属品

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

    Parts and accessories:

  3. 参考日本語訳

    その他

    Other:

  4. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他

    Other

空欄空欄空欄
9031.90.91.60
参考日本語訳

テストベンチのもの

Of test benches

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測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > テストベンチのもの

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    部分品及び附属品

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

    Parts and accessories:

  3. 参考日本語訳

    その他

    Other:

  4. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他

    Other

空欄空欄空欄
9031.90.91.95
参考日本語訳

その他

Other

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測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > その他

  1. 参考日本語訳

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品

    Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:

  2. 参考日本語訳

    部分品及び附属品

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品

    Parts and accessories:

  3. 参考日本語訳

    その他

    Other:

  4. 参考日本語訳

    その他

    分類の条件を見る

    測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他

    Other

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