| HTSコード9030.90.89.56 | 商品説明Of articles of subheading 9030.84 分類の条件を見るオシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > その他 > 第9030.84号の物品のもの 参考日本語訳オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 Oscilloscopes, spectrum analyzers and other instruments and apparatus for measuring or checking electrical quantities, excluding meters of heading 9028; instruments and apparatus for measuring or detecting alpha, beta, gamma, X-ray, cosmic or other ionizing radiations; parts and accessories thereof: 参考日本語訳部分品及び附属品 分類の条件を見るオシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 Parts and accessories: 参考日本語訳その他 分類の条件を見るオシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > その他 Other
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9030.90.89.61 | 商品説明分類の条件を見るオシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > その他 > その他 参考日本語訳オシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 Oscilloscopes, spectrum analyzers and other instruments and apparatus for measuring or checking electrical quantities, excluding meters of heading 9028; instruments and apparatus for measuring or detecting alpha, beta, gamma, X-ray, cosmic or other ionizing radiations; parts and accessories thereof: 参考日本語訳部分品及び附属品 分類の条件を見るオシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 Parts and accessories: 参考日本語訳その他 分類の条件を見るオシロスコープ、スペクトラムアナライザーその他の電気的量の測定用又は検査用の機器(第9028項の計器を除く。)、アルファ線、ベータ線、ガンマ線、エックス線、宇宙線その他の電離放射線の測定用又は検出用の機器並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > その他 Other
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031 | 商品説明参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: | 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.10.00.00 | 商品説明Machines for balancing mechanical parts 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 釣合試験機 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)40% |
| HTSコード9031.20.00.00 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > テストベンチ 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:
| 一般税率(General)1.7% | 特別税率(Special)無税 (A*,AU,BH,CL,CO,D,E,IL,JO,KR,MA,OM,P,PA,PE,S,SG)Free (A*,AU,BH,CL,CO,D,E,IL,JO,KR,MA,OM,P,PA,PE,S,SG) | 第2欄税率(Column 2)45% |
| HTSコード9031.41.00 | 商品説明参考日本語訳半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits) 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: Other optical instruments and appliances:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)50% |
| HTSコード9031.41.00.20 | 商品説明参考日本語訳半導体デバイスの製造に使用するフォトマスク又はレチクルの検査用のもの For inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 > 半導体デバイスの製造に使用するフォトマスク又はレチクルの検査用のもの 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: Other optical instruments and appliances: 参考日本語訳半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.41.00.40 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用のもの > ウエハー用のもの 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: Other optical instruments and appliances: 参考日本語訳半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits) 参考日本語訳半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用のもの For inspecting semiconductor wafers or devices:
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.41.00.60 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用のもの > その他 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: Other optical instruments and appliances: 参考日本語訳半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > 半導体ウエハー又は半導体デバイス(集積回路を含む。)の検査用の機器及びフォトマスク又はレチクル(半導体デバイス(集積回路を含む。)の製造に使用するものに限る。)の検査用の機器 For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits) 参考日本語訳半導体ウエハー又は半導体デバイスの検査用のもの For inspecting semiconductor wafers or devices:
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.49 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: Other optical instruments and appliances:
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.49.10.00 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 > 投影検査機 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: Other optical instruments and appliances: 参考日本語訳その他 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 Other:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)45% |
| HTSコード9031.49.40.00 | 商品説明Coordinate-measuring machines 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 > 座標測定機 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: Other optical instruments and appliances: 参考日本語訳その他 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 Other:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)50% |
| HTSコード9031.49.70.00 | 商品説明参考日本語訳半導体デバイスの製造に使用するマスク(フォトマスクを除く。)の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの For inspecting masks (other than photomasks) used in manufacturing semiconductor devices; for measuring surface particulate contamination on semiconductor devices 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 > 半導体デバイスの製造に使用するマスク(フォトマスクを除く。)の検査用のもの及び半導体デバイスの表面微粒子汚染の測定用のもの 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: Other optical instruments and appliances: 参考日本語訳その他 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 Other:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)50% |
| HTSコード9031.49.90.00 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 > その他 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: Other optical instruments and appliances: 参考日本語訳その他 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の光学機器 > その他 Other:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)50% |
| HTSコード9031.80 | 商品説明Other instruments, appliances and machines: 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.80.40.00 | 商品説明参考日本語訳半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡 Electron beam microscopes fitted with equipment specifically designed for the handling and transport of semiconductor wafers or reticles 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > 半導体ウエハー又はレチクルの取扱い及び搬送用に特に設計した機器を取り付けた電子ビーム顕微鏡 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳その他の機器 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 Other instruments, appliances and machines:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)40% |
| HTSコード9031.80.80 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳その他の機器 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 Other instruments, appliances and machines:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)40% |
| HTSコード9031.80.80.60 | 商品説明For testing electrical characteristics 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 > 内燃機関の特性の試験用の機器 > 電気的特性の試験用のもの 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳その他の機器 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 Other instruments, appliances and machines: 参考日本語訳その他 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 Other Equipment for testing the characteristics of internal combustion engines:
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.80.80.70 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 > 内燃機関の特性の試験用の機器 > その他 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳その他の機器 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 Other instruments, appliances and machines: 参考日本語訳その他 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 Other Equipment for testing the characteristics of internal combustion engines:
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.80.80.85 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 > その他 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳その他の機器 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 Other instruments, appliances and machines: 参考日本語訳その他 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > その他の機器 > その他 Other
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.90 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof:
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.90.21.00 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > 投影検査機のもの 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳部分品及び附属品 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 Parts and accessories:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)45% |
| HTSコード9031.90.45.00 | 商品説明参考日本語訳第9031.49.40号の座標測定機用の台及びフレーム Bases and frames for the coordinate-measuring machines of subheading 9031.49.40 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。) > 第9031.49.40号の座標測定機用の台及びフレーム 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳部分品及び附属品 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 Parts and accessories: 参考日本語訳その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。) Of other optical instruments and appliances, other than test benches:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)50% |
| HTSコード9031.90.54.00 | 商品説明参考日本語訳第9031.41号又は第9031.49.70号の光学機器のもの Of optical instruments and appliances of subheading 9031.41 or 9031.49.70 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。) > 第9031.41号又は第9031.49.70号の光学機器のもの 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳部分品及び附属品 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 Parts and accessories: 参考日本語訳その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。) Of other optical instruments and appliances, other than test benches:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)50% |
| HTSコード9031.90.59.00 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。) > その他 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳部分品及び附属品 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 Parts and accessories: 参考日本語訳その他の光学機器のもの(試験台用のものを除く。) Of other optical instruments and appliances, other than test benches:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)50% |
| HTSコード9031.90.70.00 | 商品説明Of articles of subheading 9031.80.40 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > 第9031.80.40号の物品のもの 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳部分品及び附属品 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 Parts and accessories:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)40% |
| HTSコード9031.90.91 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳部分品及び附属品 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 Parts and accessories:
| 一般税率(General)無税Free | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)40% |
| HTSコード9031.90.91.30 | 商品説明Of machines for balancing mechanical parts 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > 釣合試験機のもの 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳部分品及び附属品 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 Parts and accessories: 参考日本語訳その他 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 Other
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.90.91.60 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > テストベンチのもの 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳部分品及び附属品 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 Parts and accessories: 参考日本語訳その他 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 Other
| 一般税率(General)空欄 | 特別税率(Special)空欄 | 第2欄税率(Column 2)空欄 |
| HTSコード9031.90.91.95 | 商品説明分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 > その他 参考日本語訳測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 Measuring or checking instruments, appliances and machines, not specified or included elsewhere in this chapter; profile projectors; parts and accessories thereof: 参考日本語訳部分品及び附属品 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 Parts and accessories: 参考日本語訳その他 分類の条件を見る測定用又は検査用の機器(この類の他の項に該当するものを除く。)及び輪郭投影機並びにこれらの部分品及び附属品 > 部分品及び附属品 > その他 > その他 Other
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